膜厚測量儀又稱金屬涂鍍層厚度測量儀，因響應全球環保工藝準則，故目前市場上*普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

　　膜厚測量儀用途：

　　檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費。

　　膜厚測量儀特點：

　　★ 自動對焦功能 。配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。

　　★ 具有焦點距離切換功能，適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量

　　★ 采用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成的損壞。

　　★ 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。

　　★ 支持多種語言的軟件系統。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語

　　★ 搭載樣品尺寸的兼容性，可適用于各種樣品，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚的樣品(機械零部件)之大型線路板(PCB)及電子元器件等

　　★ 鹵素燈照明

　　★ 即時生成測量報告的便捷性 。運用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕松得到制作報告

　　★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正

　　★ 搭載了電動X-Y移動平臺

　　膜厚測量儀技術參數：

　　可測元素：Ti～U

　　X射線管：管電壓45KV，管電流1mA

　　檢測器：比例計數管

　　樣品觀察：CCD攝像機

　　對焦方式：激光自動對焦

　　測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

　　準直器：2個(0.1mm，0.025*0.3mm)

　　**機能：測量室門自鎖功能

　　Z軸防沖撞功能

　　儀器自診斷功能