EPOCH 1000數(shù)字超聲波探傷儀
EPOCH 1000系列數(shù)字式超聲探傷儀將常規(guī)便攜式探傷儀的**性能和相控陣成像能力結合在一起。EPOCH 1000、1000 iR及1000 i 為新型的橫寬豎窄機身結構，配有全色VGA顯示、飛梭和用于參數(shù)調節(jié)的導航箭頭，且完全符合EN12668-1標準。EPOCH 1000系列的**常規(guī)超聲性能在Epoch 1000 i中得到了完善：Epoch 1000 i內置有相控陣成像功能。
主要特色
配有相控陣成像功能
符合EN12668-1標準
30多個數(shù)字接收器濾波器選擇
6kHz脈沖重復頻率，用于高速掃查
自動相控陣探頭識別
直觀的楔塊延遲和靈敏度校準，用于所有聚焦法則
可編程模擬/報警輸出
符合針對惡劣環(huán)境的IP66環(huán)境評級
橫寬豎窄的瀏覽板面設計；可進行參數(shù)調整的飛梭
數(shù)字式高動態(tài)范圍接收器
陽光下可讀的全色VGA顯示屏
ClearWave™ Visual Enhancement（視覺增強）軟件包，用于常規(guī)A掃描解讀
參考和測量光標
標準動態(tài)DAC/TVG
標準機載DGS/AVG
三種儀器配置水平，可適用于很多檢測需要。
EPOCH 1000**UT
Epoch 1000為一款**常規(guī)超聲探傷儀，可在授權的Olympus服務中心為其升級，使其具有相控陣成像功能。
EPOCH 1000iR
**UT + 相控陣（如選購，可即刻使用）
EPOCH 1000 iR具有與EPOCH 1000相同的超聲缺陷探測性能，并可以遠程激活的方式在現(xiàn)場被輕松升級為帶有相控陣功能的儀器。
EPOCH 1000i
**UT + 內置相控陣功能
Epoch 1000 i的標準配置不僅具有與 EPOCH 1000相同的**超聲探傷性能，而且還配備了內置的相控陣成像功能。
EPOCH 1000系列：可被升級為帶有相控陣功能的**探傷儀
Epoch 1000、Epoch 1000 iR以及Epoch 1000 i儀器具有**常規(guī)超聲探傷能力，普通檢測人員和**檢測人員都可使用。這些手持式儀器還可與小型系統(tǒng)配套使用，進行高速掃查以及單一通道成像操作。儀器的標準配置具有多種完善的功能，如：在**高速掃查應用中，單射測量所用的*大6kHz的脈沖重復頻率（PRF）；使用PerfectSquare™技術的可調方波脈沖發(fā)生器；以及用于獲得特殊信噪比澄清度的綜合數(shù)字濾波器。
標準性能
動態(tài)DAC/TVG，包含：ASME、ASME-III、JIS、20-80%、自定義以及TVG表
可調脈沖重復頻率（PRF）： 5Hz~6kHz
所有標準模式下的單射測量
使用PerfectSquare™技術的可調方波脈沖發(fā)生器
可編程模擬輸出和報警輸出
30多個數(shù)字濾波器設置
數(shù)字式高動態(tài)范圍接收器
軟件特色
界面閘門 - 可選的第三個測量閘門，可對變化的界面回波進行實時跟蹤，以使數(shù)字測量保持一致。
AWS焊縫定級 - 焊縫定級計算器，為閘門缺陷指示提供實時的符合AWS D1.1/D1.5規(guī)范的"Ｄ"值焊縫評級。
機載DGS/AVG - DGS/AVG缺陷定量技術使用計算好的衰減曲線，幫助操作人員定量潛在的缺陷。含有大量的特性化探頭的機載探頭程序庫，可幫助操作人員快速輕松地設置DGS/AVG曲線，并進行**的缺陷定量操作。
EPOCH 1000 Clearwave™顯示功能的完善
EPOCH 1000添加了一系列新的、令人振奮的、可提高顯示效果的功能，從而提高了**檢測應用的質量和操作的便利性。
SureView™ - 基于模擬CRT顯示技術的功能。檢測人員通過該功能可以看到從反射體發(fā)出的峰值缺陷指示。即使在由于儀器量程的限制，將這些峰值缺陷指示壓縮到視野范圍以外的情況下，也能做到這點。
復合A掃描 - 該功能顯示處于屏幕更新速率之間采集到的全部A掃描（當PRF > 60 Hz時，為多個A掃描），這些A掃描疊加在一起出現(xiàn)在屏幕上。
***幅 - 只顯示帶有*高閘門波幅讀數(shù)的A掃描。
*小厚度 - 只顯示代表*小厚度讀數(shù)的Ａ掃描。
平均A掃描 - 這是一個可顯示所有采集到的Ａ掃描的平均Ａ掃描的全新功能。
持續(xù)模式 - 在預先定好的時間段內，將以前采集的Ａ掃描保持在儀器的顯示屏幕上。
基線中斷 - 在全波模式下，"過零"點顯示為連接單個A掃描波瓣與基線的線段。
EPOCH 1000 i：帶有相控陣成像功能的**超聲探傷儀
EPOCH 1000 i為一款具有強大的常規(guī)超聲和相控陣缺陷探測能力的堅固耐用的便攜式儀器。該款儀器使用單一設置，無需多個探頭和楔塊便可顯示多種不同角度（聚焦法則）的A掃描，不僅提高了發(fā)現(xiàn)缺陷的幾率，而且改善了缺陷區(qū)域的顯示效果，從而提高了缺陷檢測的效率。用戶不僅可以繼續(xù)利用Epoch 1000儀器的優(yōu)異的常規(guī)性能，同時還可享有Epoch 1000 i儀器的相控陣技術帶來的優(yōu)勢。EPOCH 1000 i可根據(jù)常規(guī)標準進行符合規(guī)范的檢測，其對相控陣技術的運用可提高檢測的**性和效率。
EPOCH 1000 i儀器的標準配置為16:16，同時還包括很多有助于缺陷檢測的定量功能。儀器的標準配置還包括用于缺陷尺寸評價的A掃描和S掃描的參考和定量光標。EPOCH 1000 i還配有用于每個聚焦法則的DAC/TVG 功能，可基于采集到的DAC曲線對所選的A掃描進行缺陷指征。
