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測試主副參數：Cs-Rs,Cs-D,Cp-Rp,Cp-D,Lp-Rp,Lp-Q,Ls-Rs,Ls-Q,G-B,R-X,Z-θrad,Z-θdeg |
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測試監視參數:Z,D,Q,θr,θd,R,X,G,B,Y,Vac,Iac,Δ,Δ% |
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測試頻率：10Hz~300kHz (連續頻率，分辨率 0.001Hz) |
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基本準確度：0.05% |
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測試電平：0.01V~2.00V 以10mV步進 |
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測試速度：3次/秒，6次/秒,10次/秒，30次/秒 |
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主參數6位，副參數6位顯示，監視參數6位顯示 |
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L: 0.00001μH - 999999H |
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C: 0.00001pF - 999999μF |
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R,Z: 0.00001Ω - 99.9999MΩ? |
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D,Q: 0.00001 - 999999 |
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θ(deg): -90.0000°- 90.0000°? |
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θ(rad): -3.14159 – 3.14159 |
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Δ%: -999.999% - 999.999% |
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輸出阻抗：30Ω, 50Ω和100Ω |
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等效電路：串聯, 并聯 |
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全自動測試：量程自動，等效電路自動，參數自動。 |
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真彩16M色，TFT-LCD顯示。 |
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校正功能：全量程程開路和短路掃頻清零,三組用戶點頻校準。 |
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多頻測試：支持10個頻率掃描測試 |
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多電平測試：支持10個電平掃描測試 |
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10組文件管理，可完全存儲儀器狀態,列表掃描設置和比較器設置。 |
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增強型比較器（分選）功能：可編程的P1~P9 九檔分選，主參數HI,IN,LO顯示和輸出，NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。 |
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**偏差（ABS）比較方式、相對偏差（PER）和順序（SEQ）比較方式。 |
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可開關的附屬檔（AUX）分選。 |
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可編程1～200次平均次數，提供穩定性。 |
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自定義分選結果訊響。 |
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內置RS232C接口和Handler接口。 |
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1000V超強沖擊保護 |
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